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SCMナノダイヤ
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ナノダイヤのハンドリング:分級
多結晶タイプ
100nm
d50=0.0991μ, mv=0.1065μ, s.d. 0.0385
80nm
d50=0.0828μ, mv=0.0874μ, s.d. 0.0338
従来用途である研磨市場へは既に製品投入している｡他用途向け､50nm未満はサンプル出荷をしている｡
測定:MicrotracUPA
50nm
d50=0.0505μ, mv=0.0562μ, s.d. 0.023
単結晶タイプ
100nm
d50=0.1028μ, mv=0.1041μ, s.d. 0.0344
80nm
d50=0.0815μ, mv=0.0852μ, s.d. 0.0244
従来用途である研磨市場へは既に製品投入している｡他用途向け､50nm未満は サンプル出荷をしている｡
測定:MicrotracUPA
50nm
d50=0.0536μ, mv=0.0589μ, s.d. 0.0246
クラスタータイプ
100nm
d50=0.1017μ, mv=0.1145μ, s.d. 0.0525
80nm
d50=0.0761μ, mv=0.0905μ, s.d. 0.0481
50nm
d50=0.0501μ, mv=0.0658μ, s.d. 0.0473
未処理
d50=0.2334μ, mv=0.3977μ, s.d. 0.2355
測定:MicrotracUPAs
SCMナノダイヤトップ
ナノダイヤの物性
X線回折チャート
ラマンスペクトル測定例
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